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ICT(In-Circuit-test)、MDA(Manufacturing Defects Analyzer)、ATE(Automatic Test Equipment)有何不同?▪ 一般稱(chēng)呼MDA為比較低階的ICT,例如TRI-518系列、JET-300、ADSYS-K518系列…等,這類(lèi)測(cè)試機(jī)臺(tái)只能量測(cè)基本的L/C/R/D零件,也可以搭配TestJet測(cè)試排PIN零件,但其功能比較陽(yáng)春,無(wú)法提供待測(cè)試電路板電源,所以也無(wú)法執(zhí)行低階的電路板程式自我測(cè)試?梢詫⑦@種測(cè)試機(jī)臺(tái)當(dāng)作是一臺(tái)可以自動(dòng)測(cè)試的萬(wàn)用電表。 |